Кристаллография
Уровень: Вуз → обзор
Кристаллография изучает периодическое расположение атомов, симметрии кристаллов и связь структуры со свойствами материала.
Что надо понять
- Кристаллическая решётка и базис вместе задают структуру.
- Элементарная ячейка повторяется трансляциями.
- Обратная решётка удобна для дифракции и зонной теории.
- Дефекты реальны и часто определяют механические и электрические свойства.
Основные формулы
1. Вектор решётки
\(n_i\) — целые числа.
2. Объём ячейки
Для кубической ячейки \(V_c=a^3\).
3. Плотность кристалла
\(Z\) — число формульных единиц в ячейке.
4. Закон Брэгга
Условие конструктивной интерференции на кристаллических плоскостях.
5. Межплоскостное расстояние
Для кубической решётки.
6. Координационное число
Например, \(z=12\) для ГЦК.
Разобранные задачи
Задача 1. Плотность ОЦК
Условие. Кубическая ОЦК-решётка имеет \(Z=2\), параметр \(a=0{,}30\) нм, молярная масса \(56\) г/моль.
Решение.
Ответ: примерно \(6{,}9\) г/см³.
Задача 2. Брэгг
Условие. \(\lambda=0{,}154\) нм, \(d=0{,}20\) нм, первый порядок.
Решение.
Ответ: \(22{,}6^\circ\).
Задача 3. Индексы Миллера
Условие. Плоскость пересекает оси в точках \(a\), \(2a\) и бесконечности.
Решение.
В единицах параметра решётки перехваты:
Берём обратные:
Умножаем на 2:
Ответ: индексы \((210)\).
Алгоритм решения
- Определить тип решётки и число частиц в ячейке.
- Выбрать прямое или обратное пространство.
- Для дифракции определить семейство плоскостей.
- Применить закон Брэгга.
- Проверить размерность параметров ячейки.
Частые ошибки
- Путать решётку и кристаллическую структуру.
- Считать все атомы на границе ячейки принадлежащими ей целиком.
- Путать угол Брэгга с углом между падающим и отражённым лучами.
- Считать дефекты только вредными.
Задачи для самопроверки
- Сколько атомов в простой кубической ячейке?
Ответ
\(1\).- Сколько атомов в ГЦК-ячейке?
Ответ
\(4\).- Что измеряет рентгеновская дифракция?
Ответ
Периодичность и межплоскостные расстояния.Связи с другими темами
Краткий итог
Кристаллография изучает периодическое расположение атомов, симметрии кристаллов и связь структуры со свойствами материала.